Boron distribution in individual Ge/Si core-shell nanowires investigated by atom probe tomography
Boron distribution in individual Ge/Si core-shell nanowires investigated by atom probe tomography
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通过原子探针断层扫描研究单个 Ge/Si 核壳纳米线中的硼分布
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Nagai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
B. Han;Y. Shimizu;K. Inoue;W. Jevasuwan;N. Fukata;and Y. Nagai
