Design of a 324 MHz Double-Spoke Cavity at CSNS
Design of a 324 MHz Double-Spoke Cavity at CSNS
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CSNS 324 MHz 双辐腔的设计
DOI：
10.1109/tasc.2022.3214887
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发表时间：
2022-12
影响因子：
1.8
通讯作者：
Sheng Wang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yun Wang;Huachang Liu;Tao Yang;Ahong Li;Peihua Qu;Bo Li;Mengxu Fan;Xiaolei Wu;Qiang Chen;Cong Zhang;Wenzhong Zhou;Jianpin Dai;Sheng Wang
本文介绍了一个324 MHz双辐条腔的设计研究。对几何参数进行了优化，以获得合理的射频特性（例如，低的$E_p/E_{acc}$、低的$B_p/E_{acc}$以及高的$R/Q$）。然后，对腔体的端盖和辐条基部进行了精心优化，以使设计梯度下的二次电子倍增效应最小化。此外，对机械设计进行了优化，以降低洛伦兹系数和氦压波动的频率敏感度。鉴于腔体的脉冲运行特性，对射频脉冲频谱以及每个频谱的相应幅度进行了评估。最后，利用ANSYS软件进行了模态分析，并对前六阶模态进行了分类。
The design study of a 324 MHz double spoke cavity is presented in this paper. The geometric parameters are optimized to get reasonable RF properties (e.g., low Ep/Eacc, low Bp/Eacc, and high R/Q). Then, the end cap and the spoke base of the cavity are deliberately optimized to minimize multipacting for the design gradient. Furthermore, the mechanical design is optimized to reduce the Lorentz coefficient and the frequency sensitivity of helium pressure fluctuation. In view of the pulsed operation characteristics of the cavity, the RF pulse spectrum and the corresponding amplitude of each spectrum is evaluated. At last, the modal analysis is performed by the ANSYS software, and the first six modes are classified.
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DOI：
--
发表时间：
2001-09
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
R. Mitchell;K. Matsumoto;G. Ciovati;K. Davis;K. Macha;R. Sundelin
通讯作者：
R. Mitchell;K. Matsumoto;G. Ciovati;K. Davis;K. Macha;R. Sundelin
DOI：
10.18429/jacow-srf2019-thp089
发表时间：
2019-08
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Quan Zhou;F. He;W. Pan
通讯作者：
Quan Zhou;F. He;W. Pan
DOI：
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发表时间：
2011-07
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
J. Delayen;S. D. Silva;C.S.Hopper
通讯作者：
J. Delayen;S. D. Silva;C.S.Hopper
DOI：
10.1103/baps.2014.april.s14.8
发表时间：
2014-04
期刊：
Bulletin of the American Physical Society
影响因子：
--
作者：
C.S.Hopper;J. Delayen
通讯作者：
C.S.Hopper;J. Delayen
影响因子：
2.7
作者：
T. Jiang;Yulu Huang;Shengxue Zhang;Lubei Liu;P. Xiong;C. G. Li;Hao Guo;W. Yue;Shenghu Zhang;Yuan He
通讯作者：
T. Jiang;Yulu Huang;Shengxue Zhang;Lubei Liu;P. Xiong;C. G. Li;Hao Guo;W. Yue;Shenghu Zhang;Yuan He