Electromigration-induced via failure assisted by neighboring clusters
Electromigration-induced via failure assisted by neighboring clusters
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通过邻近簇辅助的故障引起的电迁移
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Young‐Chang Joo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
I. Choi;Young;Young‐Chang Joo
