Ken-ichi Shiiyama: "Development of Specimen Holder for Measuring Electrical Properties of Oxides under Electron Irradiation in HVEM" J.Nuclear Instruments and Methods. (印刷中).
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Ken-ichi Shiiyama：“用于在 HVEM 中测量电子辐照下氧化物电性能的样品支架的开发”J.Nuclear Instruments andMethods（正在出版）。
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