非破壊検査工学叢書「非破壊検査の最前線」ナノ技術への挑戦-陽電子消滅によるきずの評価-
非破壊検査工学叢書「非破壊検査の最前線」ナノ技術への挑戦-陽電子消滅によるきずの評価-
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无损检测工程系列《无损检测最前沿》对纳米技术的挑战-正电子湮没造成的缺陷评估-
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
白井泰治(分担)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Hattori;N.Goto;Y.Murata;T.Koyama;M.Morinaga;白井泰治(分担)
