Synthesis of ZnO on ITO and Etched Pattern Characterization by Scanning Electrochemical Microscopy
Synthesis of ZnO on ITO and Etched Pattern Characterization by Scanning Electrochemical Microscopy
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DOI：
10.3866/pku.whxb20111117
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发表时间：
2011
影响因子：
10.9
通讯作者：
Tang Jing;食品安全分析与检测教育部暨福建省重点实验室 福州 福州大学化学化工学院;Zheng Jing-jing;Xu Wei;Tian Xiao-Chun;Lin Jian-hang;福州 Instrumental Measurement 福州大学分析测试中心
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tang Jing;食品安全分析与检测教育部暨福建省重点实验室 福州 福州大学化学化工学院;Zheng Jing-jing;Xu Wei;Tian Xiao-Chun;Lin Jian-hang;福州 Instrumental Measurement 福州大学分析测试中心
报道了一种在氧化铟锡(ITO)衬底上直接电沉积法制备氧化锌纳米棒或氧化锌薄膜的方法。用含有盐酸的琼脂糖印章刻蚀氧化锌薄膜，以形成不同的图案。用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)和扫描电化学显微镜(SECM)对ITO衬底上的氧化锌薄膜的结构、形貌和电化学性质进行了表征。
We report a direct electrochemical deposition process to produce ZnO nanorods or a ZnO thin film on an indium tin oxide (ITO) substrate. The ZnO film was etched by an agarose stamp containing HCl as the etchant to form different patterns. The structure, morphology, and electrochemical properties of the ZnO thin films on the ITO substrate were characterized by scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD), and scanning electrochemical microscopy (SECM).