T. Gotoh: "Nanoscale electrical phase-change in GeSb_2 Te_4 films with scanning probe microscopes"Journal of Non-Crystalline Solids. 印刷中. (2002)
T. Gotoh: "Nanoscale electrical phase-change in GeSb_2 Te_4 films with scanning probe microscopes"Journal of Non-Crystalline Solids. 印刷中. (2002)
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T. Gotoh：“使用扫描探针显微镜观察 GeSb_2 Te_4 薄膜中的纳米级电相变”，《非晶固体杂志》已出版（2002 年）。
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