In situ measurement of aging-induced performance degradation in digital circuits
In situ measurement of aging-induced performance degradation in digital circuits
复制标题
数字电路中老化引起的性能下降的原位测量
DOI：
10.1109/ets.2016.7519285
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
G. Georgakos
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
N. P. Aryan;C. Funke;J. Barsgfrede;C. Yilmaz;D. Schmitt-Landsiedel;G. Georgakos
