Spatial Point Analysis of Ion Track Patterns using Common Polymer Films by Atomic Forced Microscopy
Spatial Point Analysis of Ion Track Patterns using Common Polymer Films by Atomic Forced Microscopy
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通过原子强制显微镜使用普通聚合物薄膜对离子轨迹图案进行空间点分析
DOI：
10.2494/photopolymer.27.561
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发表时间：
2014
影响因子：
0.8
通讯作者：
S. Seki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Omichi;W. Choi;S. Tsukuda;M. Sugimoto;S. Seki
