Trend of Developing Measurement Technology Using Transmission Electron Microscope
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复制标题
透射电镜测量技术的发展趋势
DOI：
10.11499/sicejl.60.608
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林 慶太
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wandale Steven;Ichige Koichi;井上智貴，木村共孝，程俊;小林 慶太
*日本茨城筑波东市中心5，1-1-1-1日本国家计量研究所材料与化学测量研究所纳米标准小组*电子邮件：kobayashi-z@AIST。去。太平绅士
* Nanodimensional Standards Group, Research Institute for Material and Chemical Measurement, National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Central 5, 1–1–1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki, Japan* E-mail: Kobayashi-z@ aist. go. jp