Nanoadhesion layer for enhanced Si-Si and Si-SiN wafer bonding

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DOI:
10.1016/j.microrel.2010.12.006
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发表时间:
2012-02
期刊:
Microelectron. Reliab.
影响因子:
--
通讯作者:
R. Kondoh;Chenxi Wang;A. Shigetou;T. Suga
R. Kondoh;Chenxi Wang;A. Shigetou;T. Suga
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
R. Kondoh;Chenxi Wang;A. Shigetou;T. Suga

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