M.Okuyama,M.Takahashi,K.Kodama,T.Nakaiso and M.Noda: "An Analysis of Effects of Device Structures on Retention Characteristics in MFIS Structures"Journal of Institute of Electrical and Electronics Engineers. (In press). (2001)
M.Okuyama,M.Takahashi,K.Kodama,T.Nakaiso and M.Noda: "An Analysis of Effects of Device Structures on Retention Characteristics in MFIS Structures"Journal of Institute of Electrical and Electronics Engineers. (In press). (2001)
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M.Okuyama、M.Takahashi、K.Kodama、T.Nakaiso 和 M.Noda：“器件结构对 MFIS 结构保留特性的影响分析”电气电子工程师学会期刊。
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