A Soft-Error Tolerant TCAM for Multiple-Bit Flips Using Partial Don't Care Keys
A Soft-Error Tolerant TCAM for Multiple-Bit Flips Using Partial Don't Care Keys
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一种使用部分无关密钥进行多位翻转的软错误容错 TCAM
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
I. Syafalni;T. Sasao;X. Wen
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使用布隆过滤器在三元 CAM 中进行错误检测
DOI：
10.7873/date.2013.300
发表时间：
2013
期刊：
2013 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子：
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作者：
S. Pontarelli;M. Ottavi;A. Evans;Shi
通讯作者：
Shi
减少寄存器文件软错误的编译器-微体系结构混合方法
DOI：
10.1109/tcad.2010.2049050
发表时间：
2010
影响因子：
2.9
作者：
Jongeun Lee;Aviral Shrivastava
通讯作者：
Aviral Shrivastava
使用部分无关密钥的软错误容忍 TCAM
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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作者：
I. Syafalni;T. Sasao;X. Wen;S. Holst;K. Miyase
通讯作者：
K. Miyase
用于高可靠性数据包分类的软错误容忍 TCAM
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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作者：
I. Syafalni;T. Sasao;X. Wen;S. Holst;K. Miyase
通讯作者：
K. Miyase