Predictions of point defect, surface, and interface properties in semiconductors using first-principles calculations
Predictions of point defect, surface, and interface properties in semiconductors using first-principles calculations
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使用第一原理计算预测半导体中的点缺陷、表面和界面特性
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Fumiyasu Oba
中科院分区：
文献类型：
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作者：
田中祐樹;竹岡敬和;片桐清文;犬丸啓;Fumiyasu Oba
