Tension-Tension Fatigue of Copper Thin Films

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DOI:
10.1016/s0142-1123(97)00080-7
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发表时间:
1996-11
期刊:
Structural Analysis in Microelectronics and Fiber Optics
影响因子:
--
通讯作者:
D. Read
D. Read
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
D. Read

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