High spatial resolution surface potential measurements using secondary electrons
High spatial resolution surface potential measurements using secondary electrons
复制标题
使用二次电子进行高空间分辨率表面电势测量
DOI：
10.1016/0039-6028(80)90276-9
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发表时间：
1980
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Venables
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Janssen;P. Akhter;C. Harland;J. Venables
