Depth depend XAFS analysis of SrTiO_3 thin film
Depth depend XAFS analysis of SrTiO_3 thin film
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SrTiO_3 薄膜的深度相关 XAFS 分析
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
米田安宏
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Fukunaga;Y. Yoneda;H. Saitoh;Y. Katayama;米田安宏
