グラ7ェン孔の作製とその局所電子構造の極低温STM測定による解明
グラ7ェン孔の作製とその局所電子構造の極低温STM測定による解明
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通过低温 STM 测量制备石墨烯孔并阐明其局部电子结构
DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
榎敏明
中科院分区:
文献类型:
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作者:
酒井謙一;高井和之;福井賢一;榎敏明