基于BEEI方法的软包装热封缺陷超声检测研究

基于BEEI方法的软包装热封缺陷超声检测研究
复制标题

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
应用基础与工程科学学报
影响因子:
--
通讯作者:
吴斌
吴斌
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
何存富;袁红梅;吴斌

文献摘要

相似文献