Characterization of DLC films by EELS and electron holography
Characterization of DLC films by EELS and electron holography
复制标题
通过 EELS 和电子全息术表征 DLC 薄膜
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Daisuke Shindo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Kasahara;K. Asamura;T. Mukai;Hyun Soon Park;S.Y.Ji;Daisuke Shindo
