AMS method for depth profiling of trace elements concentration in materials – Construction and applications
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DOI：
10.1016/j.nimb.2015.04.050
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发表时间：
2015-10
影响因子：
1.3
通讯作者：
C. Stan-Sion;M. Enachescu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Stan-Sion;M. Enachescu
