Determination of composition distributions in InP/InGaAs/InP quantum-well structures by X-ray crystal truncation rod scattering and quantum levels
Determination of composition distributions in InP/InGaAs/InP quantum-well structures by X-ray crystal truncation rod scattering and quantum levels
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通过 X 射线晶体截断棒散射和量子能级测定 InP/InGaAs/InP 量子阱结构的成分分布
DOI：
10.1016/s0022-0248(97)00476-4
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发表时间：
1998
影响因子：
1.8
通讯作者：
H. Kamei
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Tabuchi;K. Fujibayashi;N. Yamada;K. Hagiwara;A. Kobashi;T. Iguchi;Y. Takeda;H. Kamei
