High-throughput Characterization Method for Crystallization Temperature of Integrated Thin Film Amorphous Alloys Using Thermography
High-throughput Characterization Method for Crystallization Temperature of Integrated Thin Film Amorphous Alloys Using Thermography
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利用热成像技术测定集成薄膜非晶合金结晶温度的高通量表征方法
DOI：
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发表时间：
2011
影响因子：
1.5
通讯作者：
Seiichi Hata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuko Aono;Junpei Sakurai;Akira Shimokohbe;Seiichi Hata
