A transmission x-ray microscopy and NEXAFS approach for studying corroded silicate glasses at the nanometre scale
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DOI：
10.13036/17533562.59.1.043
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发表时间：
2018-02
影响因子：
0.6
通讯作者：
M. Kutzschbach;P. Guttmann;K. Marquardt;S. Werner;K. Henzler;M. Wilke;Deutsches GeoForschungsZentrum Potsdam;Helmholtz-Zentrum Berlin fur Materialien und Energie-Helmholtz-Zentrum-Berlin-fur-Materialien-und-1667842994
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Kutzschbach;P. Guttmann;K. Marquardt;S. Werner;K. Henzler;M. Wilke;Deutsches GeoForschungsZentrum Potsdam;Helmholtz-Zentrum Berlin fur Materialien und Energie-Helmholtz-Zentrum-Berlin-fur-Materialien-und-1667842994
