基于0.13μm SOI CMOS工艺的高性能LDO设计

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DOI:
10.3969/j.issn.1674-6236.2018.19.036
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发表时间:
2018
期刊:
电子设计工程
影响因子:
--
通讯作者:
杨苹
杨苹
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
李雅淑;高超嵩;孙向明;杨苹

文献摘要

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