基于0.13μm SOI CMOS工艺的高性能LDO设计
基于0.13μm SOI CMOS工艺的高性能LDO设计
复制标题
DOI:
10.3969/j.issn.1674-6236.2018.19.036
复制
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
杨苹
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
李雅淑;高超嵩;孙向明;杨苹