W.Parrish, C.Erickson, T.C.Huang, M.Hart, B.Gilles, and H.Toraya: ""X-ray Reflectometry of Single-and Multi-Layr Thin Films"" Symp.Proc.Adv.Suface Thin Film Diffraction, Mat.Res.Soc.Pittsburgh. 208. 327-337 (1991)
W.Parrish, C.Erickson, T.C.Huang, M.Hart, B.Gilles, and H.Toraya: ""X-ray Reflectometry of Single-and Multi-Layr Thin Films"" Symp.Proc.Adv.Suface Thin Film Diffraction, Mat.Res.Soc.Pittsburgh. 208. 327-337 (1991)
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W.Parrish、C.Erickson、T.C.Huang、M.Hart、B.Gilles 和 H.Toraya：“单层和多层薄膜的 X 射线反射测量”Symp.Proc.Adv.Suface 薄膜
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