Learning A Wafer Feature With One Training Sample
Learning A Wafer Feature With One Training Sample
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使用一个训练样本学习晶圆特征
DOI：
10.1109/itc44778.2020.9325254
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Sumikawa, Nik
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zeng, Yueling Jenny;Wang, Li-C.;Shan, Chuanhe Jay;Sumikawa, Nik
DOI：
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发表时间：
2016-02
期刊：
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影响因子：
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作者：
C. Sønderby;T. Raiko;Lars Maaløe;Søren Kaae Sønderby;O. Winther
通讯作者：
C. Sønderby;T. Raiko;Lars Maaløe;Søren Kaae Sønderby;O. Winther
使用 Auto ML 提高黑色素瘤诊断系统的性能
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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作者：
Inoue Manabu;Yoshimoto Takeshi;Tanaka Kanta;Koge Junpei;Shiozawa Masayuki;Nishii Tatsuya;Ohta Yasutoshi;Fukuda Tetsuya;Satow Tetsu;Kataoka Hiroharu;Yamagami Hiroshi;Ihara Masafumi;Koga Masatoshi;Mlynash Michael;Albers Gregory W.;Toyoda Kazunori;正木達也・北畠直人・飛塚丈輝・花崎和寿・張 維倫・永岡 隆
通讯作者：
正木達也・北畠直人・飛塚丈輝・花崎和寿・張 維倫・永岡 隆
使用神经网络和张量方法进行晶圆图分类
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
International Test Conference in Asia
影响因子：
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作者：
A. Wahba;Chuanhe Jay Shan;Li;N. Sumikawa
通讯作者：
N. Sumikawa