Step-Size control for Symplectic Ray Tracing through an Error Map

Step-Size control for Symplectic Ray Tracing through an Error Map
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通过误差图进行辛射线追踪的步长控制

DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Proc.Int.Conf.Graphics and Geometry Vol.11
影响因子：
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通讯作者：
Satoh
Satoh
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Tetsu R;Satoh

文献摘要

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