Sharpening probes towards nanoscale imaging using scanning probe microscopy
Sharpening probes towards nanoscale imaging using scanning probe microscopy
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使用扫描探针显微镜将探针锐化至纳米级成像
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Tomitori
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Ishida;Y. Kakinuma;T. Aoyama;H. Anzai;K. Sakurai;M. Tomitori
