Radiation thermometry of semitransparent silicon wafers,
Radiation thermometry of semitransparent silicon wafers,
复制标题
半透明硅片的辐射测温，
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.IUCHI
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.IKEDA;H.SUGAWARA;T.IUCHI
