偏光双安定VCSELを用いた光メモリ動作のビット誤り率測定
偏光双安定VCSELを用いた光メモリ動作のビット誤り率測定
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使用偏振双稳态 VCSEL 测量光存储器操作的误码率
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
河口仁司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
林大介;仲尾一也;片山健夫;河口仁司
