T.Abukawa,C.M.Wei,K.Yoshimura,S.Kono: "Assesment of correlated thermal diffuse scattering as a direct structural method on the multielement surface system of Si(111)(√3x√3)-In"Surface Review and Letters. 7. 547-553 (2000)
T.Abukawa,C.M.Wei,K.Yoshimura,S.Kono: "Assesment of correlated thermal diffuse scattering as a direct structural method on the multielement surface system of Si(111)(√3x√3)-In"Surface Review and Letters. 7. 547-553 (2000)
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T.Abukawa、C.M.Wei、K.Yoshimura、S.Kono：“作为 Si(111)(√3x√3)-In 多元素表面系统的直接结构方法的相关热漫散射评估”Surface Review and Letters 7. 547-553 (2000)
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