Siの放射線影響評価に向けた電子線飛跡構造解析計算コードの開発
Siの放射線影響評価に向けた電子線飛跡構造解析計算コードの開発
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硅辐射影响评价电子束轨迹结构分析计算代码的开发
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐藤達彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
平田悠歩;甲斐健師;小川達彦;松谷悠佑;佐藤達彦
