J.Gotoh: "Structure and Chemical Composition measured by SIMS of ZnSe/GaAs interface grown by HR-CVD" Procedings of the 7th Symposium on Plasma Processing. 457-460 (1990)
J.Gotoh: "Structure and Chemical Composition measured by SIMS of ZnSe/GaAs interface grown by HR-CVD" Procedings of the 7th Symposium on Plasma Processing. 457-460 (1990)
复制标题
J.Gotoh：“通过 HR-CVD 生长的 ZnSe/GaAs 界面的 SIMS 测量的结构和化学成分”第七届等离子体加工研讨会论文集。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
