走査透過型電子顕微鏡法と X 線粉末回折法を用いたAl2O3-Al4C3系における新物質の探索
走査透過型電子顕微鏡法と X 線粉末回折法を用いたAl2O3-Al4C3系における新物質の探索
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利用扫描透射电子显微镜和X射线粉末衍射寻找Al2O3-Al4C3体系中的新材料
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
福田 功一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂野 広樹，浅香 透，泉 富士夫;福田 功一郎
