R. A. Herring: "Interferometry Using Convergent Electron Diffracted Beams Plus an Electron Biprism (CBED+EBI)." Ultramicroscopy. 60・1. 153-169 (19954)
R. A. Herring: "Interferometry Using Convergent Electron Diffracted Beams Plus an Electron Biprism (CBED+EBI)." Ultramicroscopy. 60・1. 153-169 (19954)
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R. A. Herring：“使用会聚电子衍射束加电子双棱镜的干涉测量 (CBED+EBI)。” 超显微术 60・1 (19954)。
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