Submicron scale image observation with a grazing incidence reflection-type single-shot soft X-ray microscope
Submicron scale image observation with a grazing incidence reflection-type single-shot soft X-ray microscope
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使用掠入射反射型单次软X射线显微镜进行亚微米级图像观察
DOI：
10.7567/jjap.53.080302
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发表时间：
2014
影响因子：
1.5
通讯作者：
Tetsuya Kawachi and Tohru Suemoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Motoyoshi Baba;Masaharu Nishikino;Noboru Hasegawa;Takuro Tomita;Yasuo Minami;Ryota Takei;Mitsuru Yamagiwa;Tetsuya Kawachi and Tohru Suemoto
