Raman Spectroscopic Characterization of Tetragonal PbZrxTil-xO3 Thin Films : A Rapid Evaluation Method for c-Domain Volume,
Raman Spectroscopic Characterization of Tetragonal PbZrxTil-xO3 Thin Films : A Rapid Evaluation Method for c-Domain Volume,
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四方 PbZrxTil-xO3 薄膜的拉曼光谱表征：c 域体积的快速评估方法，
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takashi Katoda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ken Nishida;Minoru Osada;Syunsyuke Wada;Shoji Okamoto;Risako Ueno;Hiroshi Funakubo;Takashi Katoda
