Muraoka M.: "Simple Evaluation of Elasticity in Nano-Meter Scale Using a Flat-Ended Sensor Tip in Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy"Proc. 11th Int. Conf. on Fracture. (CD-ROM)(掲載予定). (2005)
Muraoka M.: "Simple Evaluation of Elasticity in Nano-Meter Scale Using a Flat-Ended Sensor Tip in Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy"Proc. 11th Int. Conf. on Fracture. (CD-ROM)(掲載予定). (2005)
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Muraoka M.：“在灵敏度增强原子力声学显微镜中使用平端传感器尖端简单评估纳米级弹性”Proc. 11th Int Conf.（即将出版）。 （2005）
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