Surface structural analysis of monolayer films composed of light elements by X-ray photoelectron diffraction
Surface structural analysis of monolayer films composed of light elements by X-ray photoelectron diffraction
复制标题
X射线光电子衍射分析轻元素单层薄膜的表面结构
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hitoshi NAKAMURA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Mitsumi;S.Umebayashi;Y.Ozawa;M.Tadokoro;H.Kawamura;K.Toriumi;Hitoshi NAKAMURA
