Atomic-Resolution Electron Microscopic Study on Radical Addition to Curved Graphitic Surface
Atomic-Resolution Electron Microscopic Study on Radical Addition to Curved Graphitic Surface
复制标题
石墨曲面自由基加成的原子分辨率电子显微镜研究
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Eiichi Nakamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ko Kamei;Toshiki Shimizu;Koji Harano;Eiichi Nakamura
