Precise and fast SIMS depth profiling of polymer materials with large Ar cluster ion beams
Precise and fast SIMS depth profiling of polymer materials with large Ar cluster ion beams
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使用大型 Ar 团簇离子束对聚合物材料进行精确快速的 SIMS 深度分析
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Matsuo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Ninomiya;K. Ichiki;H. Yamada;Y. Nakata;T. Seki;T. Aoki;J. Matsuo
