シリコンフォトニクス技術による周波数および時間領域計測

シリコンフォトニクス技術による周波数および時間領域計測
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使用硅光子技术进行频域和时域测量

DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
山田 浩治
山田 浩治
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
高 磊;Cong Guangwei;前神 有里子;岡野 誠;山本 宗継;大野 守史;山田 浩治

文献摘要

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