橋本清司: "電子デバイス用薄膜の3点曲げ試験によるヤング率測定法の開発" 日本機械学会関西支部第68期定時総会講演会講演論文集. No.934-1. 156-158 (1993)
橋本清司: "電子デバイス用薄膜の3点曲げ試験によるヤング率測定法の開発" 日本機械学会関西支部第68期定時総会講演会講演論文集. No.934-1. 156-158 (1993)
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Seiji Hashimoto：“使用电子器件薄膜三点弯曲测试的杨氏模量测量方法的开发”日本机械工程师学会关西分会第 68 届年会会议记录第 934-1 号。 158 (1993)
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