Stylus tip envelop method: corrected measured point determination in high definition coordinate metrology

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DOI：
10.1007/s00170-008-1615-1
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发表时间：
2009-05
期刊：
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology
影响因子：
--
通讯作者：
Adam Woźniak;J.R.R. Mayer;M. Balazinski
Adam Woźniak;J.R.R. Mayer;M. Balazinski
中科院分区：
其他
文献类型：
--
作者：
Adam Woźniak;J.R.R. Mayer;M. Balazinski

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