H.Kobayashi: "New spectroscopic method for the observation of semiconductor interface states and its application to MOS structure"The Workshop of Solid State Surfaces and Interfaces II. 4 (2000)
H.Kobayashi: "New spectroscopic method for the observation of semiconductor interface states and its application to MOS structure"The Workshop of Solid State Surfaces and Interfaces II. 4 (2000)
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H.Kobayashi：“观察半导体界面态的新光谱方法及其在MOS结构中的应用”固体表面与界面研讨会II。
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