Electronic structure of BaTiO3 thin films measured by angle-resolved hard x-ray photoemission spectroscopy
Electronic structure of BaTiO3 thin films measured by angle-resolved hard x-ray photoemission spectroscopy
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通过角分辨硬 X 射线光电子能谱测量 BaTiO3 薄膜的电子结构
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
N. Oshime
中科院分区：
文献类型：
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作者：
押目 典宏;狩野 旬;池永 英司;安井 伸太郎;日隈 聡士;池田 直;濵嵜 容丞;安原 颯;横谷 尚睦;伊藤 満;藤井 達生;保井 晃;大沢 仁志;N. Oshime
