Using available X-ray scattering instruments to reveal hierarchical structures of soft materials and connect them to the observed physical properties
Using available X-ray scattering instruments to reveal hierarchical structures of soft materials and connect them to the observed physical properties
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使用可用的 X 射线散射仪器揭示软材料的层次结构并将其与观察到的物理特性联系起来
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Taiyo YOSHIOKA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Wang;K. Yamamoto;S. Lee;T. Matsunaga;H. Miki;H. Iba;K. Tsuchiya;T. Uchiyama;T. Watanabe;T. Takami;and Y. Uchimoto;Taiyo YOSHIOKA
