ラッチ内2重ノード反転ソフトエラーの耐性設計
ラッチ内2重ノード反転ソフトエラーの耐性設計
复制标题
锁存器双节点反转软错误容限设计
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
伊藤 秀男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂田雅俊;難波一輝;伊藤 秀男
