Tetsuo Sakamoto: "Behavior of Gallium Secondary Ion Intensity in Gallium Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry" Japanese Journal of Applied Physics. 36(in press). (1997)
Tetsuo Sakamoto: "Behavior of Gallium Secondary Ion Intensity in Gallium Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry" Japanese Journal of Applied Physics. 36(in press). (1997)
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Tetsuo Sakamoto：“镓聚焦离子束二次离子质谱中镓二次离子强度的行为”日本应用物理学杂志。
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